產品詳情
簡單介紹：
QNIX8500薄型探頭MIFE500是德國公司*新研發的，專門測量很薄的鍍層厚度。測量范圍為：0-500um。測試進度高達：測量精度：±（0.3um+2%讀數）。
詳情介紹：
QNIX8500薄型探頭MIFE500是德國公司*新研發的，專門測量很薄的鍍層厚度。測量范圍為：0-500um。測試進度高達：測量精度：±（0.3um+2%讀數）。
特點：
它**的測量精度和重復性為測量很薄的鍍層提供了有效的手段。
MIFE500根據磁感應原理研制，可以用來測量**磁性基體上的非磁性涂鍍層。
技術參數：
特點：
它**的測量精度和重復性為測量很薄的鍍層提供了有效的手段。
MIFE500根據磁感應原理研制，可以用來測量**磁性基體上的非磁性涂鍍層。
技術參數：
測量原理：磁感應原理
探頭型號：MIFE500
測量單位：um或mil
測量范圍：0-500um
反應速度：1600ms
重復精度：±（0.1um+0.8%讀數）
測量精度：±（0.3um+2%讀數）
*小測量面積：直徑7mm的圓
*小曲率半徑：凸半徑4mm，凹半徑5mm
操作溫度：0-50℃
電源：主機供電
尺寸：120mm×12mm×12mm
重量：95g