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FMX-003靜電測(cè)試儀原理
日期：2025-05-03 02:28
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摘要：
FMX-003靜電測(cè)試儀原理 電暈放電
須要闡明的是場(chǎng)帶電和擴(kuò)散帶電須要高濃度的單極性離子。由于它們相互排擠和高的遷移率，這種離子壽命很短。因此要用這些帶電方式，必需要持續(xù)不斷地發(fā)生離子。放射性的放電、紫外線照耀、火焰及電暈放電能在空氣中發(fā)生離子。只有*后一種辦法——電暈放電能發(fā)生高濃度的單極離子以使試樣堅(jiān)持穩(wěn)固帶電狀況。
為產(chǎn)生電暈放電，必需樹立一個(gè)不均勻的電場(chǎng)。像針與平板之間、空氣和其它通常是良好的盡緣體，但在電場(chǎng)強(qiáng)度足夠高的區(qū)域中空氣受到電離并成為可導(dǎo)電的。依據(jù)場(chǎng)的幾何外形不同，這種電荷可能是電弧放電或電暈放電。
在電暈區(qū)域，電子被加速到相當(dāng)高的速度，可以在撞擊一個(gè)空氣分子時(shí)把一個(gè)電子撞出來(lái)，于是產(chǎn)生一個(gè)正離子和一個(gè)電子。在電暈區(qū)域內(nèi)是以自保持雪崩的情勢(shì)產(chǎn)生這個(gè)進(jìn)程，從而在導(dǎo)線四周產(chǎn)生了稠密的自由電子云和正離子云，這叫電暈放電。.
做為測(cè)量對(duì)象的靜電，可以為有兩種類型。一種是工廠某地已經(jīng)產(chǎn)生的；另一種是在試驗(yàn)室的基本研討中使之產(chǎn)生的。前者需要準(zhǔn)確地控制帶電狀態(tài)，斟酌此時(shí)所具有的諸條件，找出消除故障的恰當(dāng)方法。后者請(qǐng)求能正確地把持試驗(yàn)條件，得到有再現(xiàn)性的試驗(yàn)成果。為此，必需充足懂得測(cè)量的方法，進(jìn)而預(yù)先研討剖析產(chǎn)生靜電的因素，也是完整必要的.
1.1感應(yīng)起電
感應(yīng)起電通常是對(duì)導(dǎo)體來(lái)說(shuō)的。這里先容的是電介質(zhì)在靜電場(chǎng)中由極化而使其帶電的辦法，也把它稱為感應(yīng)起電。在電場(chǎng)中，電介產(chǎn)生極化，極化后的電介質(zhì)，其電場(chǎng)將四周介質(zhì)中的某種自由電荷吸向自身和電介質(zhì)上與之符號(hào)相反的約束電荷中和。外電場(chǎng)撤走后，電介質(zhì)上的兩種電荷已無(wú)法恢復(fù)中性，因而帶有必定量的電荷，這就是感應(yīng)起電.
1.2放電衰減
物體帶電后，內(nèi)部電荷的逸散符合指數(shù)衰減規(guī)律。
Q=Q0e-t/ε0εrρr （1）
將電量衰減的時(shí)光常數(shù)τ＝ε0εrρr代進(jìn)（1）式得：Q＝Q0e-t/τ （2）
電量衰減時(shí)光常數(shù)τ可用靜電衰減丈量?jī)x來(lái)丈量，而在實(shí)際的纖維和織物的靜電測(cè)試中，人們直接取電量衰減*原測(cè)試值的一半（Q＝1/2Q0）時(shí)所用的時(shí)光，也就是靜電半衰期t1／2表征靜電荷的逸散才能。它是權(quán)衡纖維打消靜電荷性能的一個(gè)主要唆使，將式（2）加以變換得
τ＝t/lnQ0/Q （3）
以Q=Q0/2代進(jìn)式（3）得到靜電半衰期t1/2與電量衰減時(shí)間常數(shù)τ之間的關(guān)系：
t1/2= 1/1.44·τ=0.69τ
2.實(shí)驗(yàn)方式
FMX-003靜電測(cè)試儀使被測(cè)試樣起電的方式有很多種。在實(shí)驗(yàn)當(dāng)中，須要一種能夠供給穩(wěn)固的并能夠穿透必定空間（空氣）的電源，以及在檢測(cè)中受環(huán)境的影響比擬小的條件下進(jìn)行。這種措施就是電暈放電和比擬電極法檢測(cè)。.
2.2非接觸式的測(cè)量方法
SIMCO FMX-003靜電測(cè)試儀靜電電位的丈量分為接觸式和感應(yīng)式兩種。
由于物體所帶的靜電大都有靜電壓高，而電流小，且一次性損耗后不易再補(bǔ)上的特色。所以接觸性儀表大都采取了光反射法，不*體積較大，量度不準(zhǔn)確，應(yīng)用范疇也受到了限制。
直接感應(yīng)儀表測(cè)量法是用電容分壓原理。它的精度取決于電壓表固有電容和測(cè)試板對(duì)地的散布電容，且感應(yīng)電荷會(huì)通過(guò)表內(nèi)電阻而逐步泄露。因此，電壓表上讀出的電壓將隨時(shí)間逐漸衰減。
比擬法是一種非接觸的靜電測(cè)試辦法。它應(yīng)用試樣在旋轉(zhuǎn)時(shí)呈現(xiàn)的帶電荷與不帶電荷的交替變換，給探頭一個(gè)交變信號(hào)。
FMX-003靜電測(cè)試儀原理
須要闡明的是場(chǎng)帶電和擴(kuò)散帶電須要高濃度的單極性離子。由于它們相互排擠和高的遷移率，這種離子壽命很短。因此要用這些帶電方式，必需要持續(xù)不斷地發(fā)生離子。放射性的放電、紫外線照耀、火焰及電暈放電能在空氣中發(fā)生離子。只有*后一種辦法——電暈放電能發(fā)生高濃度的單極離子以使試樣堅(jiān)持穩(wěn)固帶電狀況。
為產(chǎn)生電暈放電，必需樹立一個(gè)不均勻的電場(chǎng)。像針與平板之間、空氣和其它通常是良好的盡緣體，但在電場(chǎng)強(qiáng)度足夠高的區(qū)域中空氣受到電離并成為可導(dǎo)電的。依據(jù)場(chǎng)的幾何外形不同，這種電荷可能是電弧放電或電暈放電。
在電暈區(qū)域，電子被加速到相當(dāng)高的速度，可以在撞擊一個(gè)空氣分子時(shí)把一個(gè)電子撞出來(lái)，于是產(chǎn)生一個(gè)正離子和一個(gè)電子。在電暈區(qū)域內(nèi)是以自保持雪崩的情勢(shì)產(chǎn)生這個(gè)進(jìn)程，從而在導(dǎo)線四周產(chǎn)生了稠密的自由電子云和正離子云，這叫電暈放電。.
做為測(cè)量對(duì)象的靜電，可以為有兩種類型。一種是工廠某地已經(jīng)產(chǎn)生的；另一種是在試驗(yàn)室的基本研討中使之產(chǎn)生的。前者需要準(zhǔn)確地控制帶電狀態(tài)，斟酌此時(shí)所具有的諸條件，找出消除故障的恰當(dāng)方法。后者請(qǐng)求能正確地把持試驗(yàn)條件，得到有再現(xiàn)性的試驗(yàn)成果。為此，必需充足懂得測(cè)量的方法，進(jìn)而預(yù)先研討剖析產(chǎn)生靜電的因素，也是完整必要的.
1.1感應(yīng)起電
感應(yīng)起電通常是對(duì)導(dǎo)體來(lái)說(shuō)的。這里先容的是電介質(zhì)在靜電場(chǎng)中由極化而使其帶電的辦法，也把它稱為感應(yīng)起電。在電場(chǎng)中，電介產(chǎn)生極化，極化后的電介質(zhì)，其電場(chǎng)將四周介質(zhì)中的某種自由電荷吸向自身和電介質(zhì)上與之符號(hào)相反的約束電荷中和。外電場(chǎng)撤走后，電介質(zhì)上的兩種電荷已無(wú)法恢復(fù)中性，因而帶有必定量的電荷，這就是感應(yīng)起電.
1.2放電衰減
物體帶電后，內(nèi)部電荷的逸散符合指數(shù)衰減規(guī)律。
Q=Q0e-t/ε0εrρr （1）
將電量衰減的時(shí)光常數(shù)τ＝ε0εrρr代進(jìn)（1）式得：Q＝Q0e-t/τ （2）
電量衰減時(shí)光常數(shù)τ可用靜電衰減丈量?jī)x來(lái)丈量，而在實(shí)際的纖維和織物的靜電測(cè)試中，人們直接取電量衰減*原測(cè)試值的一半（Q＝1/2Q0）時(shí)所用的時(shí)光，也就是靜電半衰期t1／2表征靜電荷的逸散才能。它是權(quán)衡纖維打消靜電荷性能的一個(gè)主要唆使，將式（2）加以變換得
τ＝t/lnQ0/Q （3）
以Q=Q0/2代進(jìn)式（3）得到靜電半衰期t1/2與電量衰減時(shí)間常數(shù)τ之間的關(guān)系：
t1/2= 1/1.44·τ=0.69τ
2.實(shí)驗(yàn)方式
FMX-003靜電測(cè)試儀使被測(cè)試樣起電的方式有很多種。在實(shí)驗(yàn)當(dāng)中，須要一種能夠供給穩(wěn)固的并能夠穿透必定空間（空氣）的電源，以及在檢測(cè)中受環(huán)境的影響比擬小的條件下進(jìn)行。這種措施就是電暈放電和比擬電極法檢測(cè)。.
2.2非接觸式的測(cè)量方法
SIMCO FMX-003靜電測(cè)試儀靜電電位的丈量分為接觸式和感應(yīng)式兩種。
由于物體所帶的靜電大都有靜電壓高，而電流小，且一次性損耗后不易再補(bǔ)上的特色。所以接觸性儀表大都采取了光反射法，不*體積較大，量度不準(zhǔn)確，應(yīng)用范疇也受到了限制。
直接感應(yīng)儀表測(cè)量法是用電容分壓原理。它的精度取決于電壓表固有電容和測(cè)試板對(duì)地的散布電容，且感應(yīng)電荷會(huì)通過(guò)表內(nèi)電阻而逐步泄露。因此，電壓表上讀出的電壓將隨時(shí)間逐漸衰減。
比擬法是一種非接觸的靜電測(cè)試辦法。它應(yīng)用試樣在旋轉(zhuǎn)時(shí)呈現(xiàn)的帶電荷與不帶電荷的交替變換，給探頭一個(gè)交變信號(hào)。
FMX-003靜電測(cè)試儀原理